Tassi di guasto: l’importanza dei test accelerati

Le stime del tasso di guasto hanno un ruolo importante in molti settori industriali. In questo ambito, il MIL-HDBK-217F (standard pubblicato dal Dipartimento della Difesa degli Stati Uniti) resta tuttora un punto di riferimento importante perché elenca i tassi di guasto di varie tipologie di componenti largamente adoperati dall’industria elettronica, come resistori, condensatori, transistor, diodi.
Lo standard propone due metodi di stima del tasso di guasto:
1) il metodo di conteggio delle parti (Parts Count Method);
2) il metodo di analisi dello stress delle parti (Part Stress Analysis Method).

L’articolo di F. Nigri (Tecnologo) esamina l’incidenza dei test accelerati sulla stima del tasso di guasto di componenti elettronici di largo impiego.

Obiettivo dell’articolo è dunque mostrare il ruolo dei c.d. “test accelerati” nella stima dei tassi di guasto dei diodi. Il lavoro è infulcrato su una interessante pubblicazione di “Vishay Semiconductors” che si è ritenuto opportuno proporre all’attenzione dei lettori per il rigoroso approccio scientifico adottato dai suoi estensori.

Altri spunti rilevanti sono stati tratti da un’apprezzabile presentazione del collega Paolo Giachin, disponibile in rete.